相変化不揮発性メモリテストチップVER.1 | ||
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試作ラン名 | 第2回 モトローラ 1.2um | |
設計年月日 | 2001/4/1 | |
ダイサイズ | 4.8mm | |
設計者氏名 | 福島早奈恵 | |
測定結果 | 未測定 | large size |
LSIテスタ/EBプローバ実習用チップ | ||
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試作ラン名 | 第1回 モトローラ 1.2um | |
設計年月日 | 2000/10/2 | |
ダイサイズ | 2.3mm | |
設計者氏名 | 北川章夫 | |
測定結果 | 完全動作 | large size |
相変化型メモリーセル | ||
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試作ラン名 | 第1回 モトローラ 1.2um | |
設計年月日 | 2000/10/2 | |
ダイサイズ | 2.3mm | |
設計者氏名 | 福島早奈恵 | |
測定結果 | 未測定 | large size |
4年生フルカスタム設計演習 | ||
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試作ラン名 | 第1回 モトローラ 1.2um | |
設計年月日 | 2000/10/2 | |
ダイサイズ | 2.3mm | |
設計者氏名 | 遠山治・伊藤康朗・中村毎良・小谷明也・福島早奈恵・横山貴巨 | |
測定結果 | 完全動作 | large size |
光インターフェース用LSI | ||
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試作ラン名 | 第1回 ローム0.6um | |
設計年月日 | 2000/6/19 | |
ダイサイズ | 4.6mm | |
設計者氏名 | 藤田隼人、中村公亮 | |
測定結果 | 完全動作 | large size |
光インターフェースLSI用TEG | ||
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試作ラン名 | 第1回 ローム0.6um | |
設計年月日 | 2000/6/19 | |
ダイサイズ | 4.6mm | |
設計者氏名 | 藤田隼人、中村公亮 | |
測定結果 | 完全動作 | large size |