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Top / Chip Photo Gallery 2001
Chip Photo Gallery 2001

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相変化不揮発性メモリ（改良版）
試作ラン名	第2回ローム 0.6um
設計年月日	2001/11/5
ダイサイズ	4.6mm
設計者氏名	福島早奈恵
測定結果	完全動作

光インターフェース
試作ラン名	第2回ローム 0.6um
設計年月日	2001/11/5
ダイサイズ	4.6mm
設計者氏名	山田裕志
測定結果	完全動作	large size

SIMS 測定 TEG (n-ch)
試作ラン名	第1回ローム 0.35um
設計年月日	2001/8/27
ダイサイズ	4.9mm
設計者氏名	北川章夫
測定結果	未測定	large size

フォトダイオードTEG
試作ラン名	第1回ローム 0.35um
設計年月日	2001/8/27
ダイサイズ	4.9mm
設計者氏名	山田裕志
測定結果	未測定	large size

光インターフェースLSI のI-V 変換回路　Ver.2
試作ラン名	第1回日立北海セミコンダクタ 0.5um
設計年月日	2001/9/17
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	深山正幸、藤田隼人、中村公亮
測定結果	未測定	large size

光インターフェースLSI のI-V 変換回路　Ver.1
試作ラン名	第1回日立北海セミコンダクタ 0.5um
設計年月日	2001/9/17
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	深山正幸、藤田隼人、中村公亮
測定結果	未測定	large size

相変化型不揮発性メモリ
試作ラン名	第1回ローム 0.6um
設計年月日	2001/6/25
ダイサイズ	4.6mm
設計者氏名	福島早奈恵
測定結果	未測定	large size

2001年LSI設計コンテスト＃1
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2001/10/1
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	源貴利、北畑隼遠、小島康、高田雅史、高橋司、北川章夫
測定結果	一部を除いて動作	large size

2001年LSI設計コンテスト＃2
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2001/10/1
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	杉木智恵、西吉彦、前田喬行、福島早奈恵
測定結果	完全動作	large size

LSIテスタ/EBプローバ実習用チップ VER.3
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2001/10/1
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	北川章夫
測定結果	完全動作	large size

複素乗算器/逐次比較コントローラ
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2001/10/1
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	北川章夫
測定結果	完全動作	large size

添付ファイル:

R06-2-1s.jpg 3412件 [詳細]

R06-1-1s.jpg 3437件 [詳細]

P7180052s.jpg 3420件 [詳細]

P7180043sn.jpg 10907件 [詳細]

P7170017sn.jpg 10933件 [詳細]

P7170009sn.jpg 10879件 [詳細]

P7120043sn.jpg 10996件 [詳細]

P2210053s.jpg 3453件 [詳細]

P2210018s.jpg 3453件 [詳細]

2001LSICON-2org-Ss.jpg 3355件 [詳細]

2001LSICON-1org-Ss.jpg 3333件 [詳細]