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Chip Photo Gallery 2004

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特定小電力無線トランシーバ
試作ラン名第4回 TSMC 0.25um
tsmc-chip-allsn.jpg
設計年月日2005/2/2
ダイサイズ4.0mm
設計者氏名有賀健太、伊藤久浩、中野伸吾、早瀬佳、前田智博、村上知倫
測定結果PLL以外完全動作large size


微小物体可視化センサ
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
P5120172sn.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ4.9mm
設計者氏名中江智
測定結果一部動作large size


微小物体可視化センサ測定用回路
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
P5120162sn.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名中江智
測定結果一部動作large size


LSI設計コンテスト#1
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
contest2004_is.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名岩池彩海
測定結果CLA 動作せずlarge size


LSI設計コンテスト#2
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
contest2004_ks.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名金子康隆
測定結果CLA 完全動作large size


LSI設計コンテスト#3
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
contest2004_ts.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名谷澤友康
測定結果CLA 動作せずlarge size


LSI設計コンテスト#4
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
contest2004_hs.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名平木謙次
測定結果BCLA 完全動作large size


LSI設計コンテスト#5
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
contest2004_ms.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名牧野良成
測定結果BCLA 完全動作large size


LSI設計コンテスト#6
試作ラン名第6回 ローム 0.35um
contest2004_ys.jpg
設計年月日2005/1/31
ダイサイズ2.4mm
設計者氏名米田智弘
測定結果BCLA 完全動作large size


特定小電力無線用PLL、VCO、スパイラルインダクタTEG
試作ラン名第1回 ローム 0.35um
04rohm1-4s.jpg
設計年月日2004/6/28
ダイサイズ4.9mm
設計者氏名有賀健太、伊藤久浩
測定結果VCO, PLL 完全動作large size


二次Δ−ΣADC、スーパーカスコードOP-Amp、相変化メモリセル測定用TEG
試作ラン名第1回 ローム 0.35um
04rohm1-3s.jpg
設計年月日2004/6/28
ダイサイズ4.9mm
設計者氏名中野伸吾、早瀬佳、泉貴富、高田雅史
測定結果2次Δ-ΣADC:動作せず。スーパーカスコードOP-AMP完全動作large size


特定小電力無線用RFフロントエンド、バラクタTEG、スパイラルインダクタTEG
試作ラン名第1回 ローム 0.35um
04rohm1-2s.jpg
設計年月日2004/6/28
ダイサイズ4.9mm
設計者氏名有賀健太、伊藤久浩
測定結果完全動作large size


特定小電力無線受信IC
試作ラン名第1回 ローム 0.35um
04rohm1-1s.jpg
設計年月日2004/6/28
ダイサイズ4.9mm
設計者氏名有賀健太、伊藤久浩、中野伸吾、早瀬佳
測定結果RF段完全動作,IF段未測定large size