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Top / Chip Photo Gallery 2005
Chip Photo Gallery 2005

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フルディジタル・マイクロディスプレイ
試作ラン名第6回 ROHM 0.35um
P4030007s.jpg
設計年月日2005/9/26
ダイサイズ4,900um
設計者氏名平木謙次, 金子康隆
測定結果1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良large size


微小物体可視化センサ
試作ラン名第8回 ROHM 0.35um
P2240269_s.jpg
設計年月日2005/11/21
ダイサイズ4,900um
設計者氏名馬村哲郎
測定結果アドレスデコーダ以外は動作large size


微小物体可視化センサ評価用回路
試作ラン名第8回 ROHM 0.35um
P2240266_s.jpg
設計年月日2005/11/21
ダイサイズ2,400um
設計者氏名馬村哲郎
測定結果トランジスタサイズに依存して動作large size


相変化メモリ評価回路
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
p4020005s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ4,900um
設計者氏名泉貴富
測定結果評価中large size


LSIテスタ/EBプローバ評価チップ
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
lab-ats-ebt2s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ2,400um
設計者氏名金子康隆
測定結果LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中large size


LSI設計コンテスト#1
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
2005contest_sakata_s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ2,400um
設計者氏名酒田二三也
測定結果完全動作(2.0V, 77ns/cycle)large size


LSI設計コンテスト#2
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
P4030011s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ2,400um
設計者氏名中山雅文
測定結果一部動作不良large size


LSI設計コンテスト#3
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
P4030004s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ2,400um
設計者氏名野手翔太
測定結果一部動作不良large size


LSI設計コンテスト#4
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
P4030002s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ2,400um
設計者氏名小林正雄
測定結果評価中large size


LSI設計コンテスト#5
試作ラン名第11回 ROHM 0.35um
2005contest_komaya_s.jpg
設計年月日2006/2/20
ダイサイズ2,400um
設計者氏名駒屋礼治
測定結果評価中large size


添付ファイル: fileP4030011s.jpg 10635件 [詳細] filelab-ats-ebt2s.jpg 10564件 [詳細] fileP4030004s.jpg 10640件 [詳細] fileP4030003s.jpg 5342件 [詳細] fileP4030002s.jpg 10649件 [詳細] fileP4030007s.jpg 10655件 [詳細] filep4020005s.jpg 10686件 [詳細] fileP2240266_s.jpg 10843件 [詳細] fileP2240269_s.jpg 10882件 [詳細] file2005contest_komaya_s.jpg 10808件 [詳細] file2005contest_sakata_s.jpg 10904件 [詳細] filerohm018_1s.jpg 1751件 [詳細] filerohm018_0s.jpg 1728件 [詳細]