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Chip Photo Gallery 2006

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ローム社 CMOS0.18umテストラン 評価用チップ1
試作ラン名第1回 ROHM 0.18umテストラン
rohm018_0s.jpg
設計年月日2006/5/19
ダイサイズ5,180um
設計者氏名高田雅史、中野伸吾、早瀬佳、高木宏章、村上知倫、牧野良成
測定結果評価中large size


ローム社 CMOS0.18umテストラン 評価用チップ2
試作ラン名第1回 ROHM 0.18umテストラン
rohm018_1s.jpg
設計年月日2006/5/19
ダイサイズ5,180um
設計者氏名高田雅史、中野伸吾、早瀬佳、高木宏章、村上知倫、牧野良成
測定結果評価中large size


ローム社 CMOS0.18um第1回試作 MIMO対応426MHz送信機及び953MHzパッシブ型センサタグ要素回路,TEG
試作ラン名2006年度 ROHM 0.18um第1回試作
R018_060919_R1100s.jpg
設計年月日2006/9/19
ダイサイズ2,500um
設計者氏名中野伸吾、早瀬佳、牧野良成、藤枝茂
測定結果評価中large size


ローム社 CMOS0.18um第1回試作 MIMO対応426MHz送信機、要素回路,TEG
試作ラン名2006年度 ROHM 0.18um第1回試作
R018_060919_R1101s.jpg
設計年月日2006/9/19
ダイサイズ2,500um
設計者氏名中野伸吾、早瀬佳、牧野良成、藤枝茂
測定結果評価中large size


添付ファイル: fileR018_060919_R1101s.jpg 2689件 [詳細] fileR018_060919_R1100s.jpg 2669件 [詳細] filerohm018_1s.jpg 2853件 [詳細] filerohm018_0s.jpg 3043件 [詳細]