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Chip Photo Gallery 2008

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Chip Photo Gallery 2008

eShuttle社 CMOS 65nm ESRセンサ
試作ラン名ES6508:001
p3070013sovs.jpg
設計年月日2008/11/18
ダイサイズ4.2mm X 2.1mm
設計者氏名安田、崔、北川
測定結果位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. 写真はレイアウトデータのオーバレイ. 平坦化が完全であるため写真ではキャパシタしか見えない.large size


ROHM社 CMOS 180nm ランダム画素配置高精細CMOSイメージセンサ/スペクトラムセンサTEG/パッケージ特性TEG
試作ラン名RO1808_10
2008rohm180nm_10-1-100.jpg
設計年月日2009/02/16
ダイサイズ2.4mm X 2.4mm
設計者氏名秋田、北川
測定結果評価中.large size


添付ファイル: file2008rohm180nm_10-1-100.jpg 4319件 [詳細] filep3070013sovs.jpg 10962件 [詳細] filep3070013st.jpg 5124件 [詳細]