評価設備リスト のバックアップ(No.2)
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- 1 (2009-04-23 (木) 21:48:24)
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- 5 (2009-07-21 (火) 00:24:12)
- 6 (2010-03-03 (水) 11:44:44)
- 7 (2010-04-29 (木) 21:39:58)
- 8 (2010-10-19 (火) 22:44:32)
- 9 (2011-01-14 (金) 18:17:57)
- 10 (2011-01-28 (金) 08:37:36)
- 11 (2011-02-22 (火) 13:54:02)
- 12 (2011-02-28 (月) 17:40:06)
- 13 (2011-03-25 (金) 19:30:40)
- 14 (2011-07-25 (月) 23:43:46)
- 15 (2011-07-28 (木) 15:10:09)
- 16 (2011-11-12 (土) 02:27:20)
- 17 (2012-01-02 (月) 18:15:51)
- 18 (2012-06-16 (土) 23:15:37)
- 19 (2012-06-26 (火) 18:20:20)
- 20 (2013-08-24 (土) 20:34:29)
- 21 (2014-04-23 (水) 16:49:37)
- 22 (2016-08-19 (金) 17:02:13)
- 23 (2016-09-18 (日) 04:05:26)
- 24 (2017-06-21 (水) 21:53:47)
- 25 (2017-11-15 (水) 20:06:01)
- 26 (2018-09-03 (月) 18:11:19)
- 27 (2019-01-07 (月) 10:42:34)
評価設備リスト †
- LSIテスタ
- IMS ATS-100（VLSI評価室）
- ADVANTEST T2000（東京大学VDEC）
- ロジックLSIの機能、動作速度、消費電力などをテストする
- 説明書(ATS-100)
- 説明書(T2000)
- 収束イオンビーム装置 (FIB)
- Fei 200xP（VLSI評価室）故障中
- Schlumberger IDS-P2X（東京大学VDEC）
- チップの配線を修正する装置。配線層の断面観察も可能
- 説明書(200xP)
- 説明書(IDS-P2S):作成中
- 電子ビームプローバ (EB Prober)
- ADVANTEST E1380A
- チップ内の配線を無負荷でプローブして信号波形を調べる装置
- 説明書(200xP)
- ADVANTEST E1380A
- 半導体パラメータアナライザ
- HP 4156A
- セミオートプローバ
- 東京精密
- ベアチップと計測器を直流接続する
- 東京精密
- RFプローバ
- カスケードマイクロテック
- ベアチップと計測器を高周波接続する
- カスケードマイクロテック
- 信号発生器
- ネットワークアナライザ
- オシロスコープ
- LCRメータ
- 周波数カウンタ
- 高抵抗メータ
- ナノボルトメータ
- マルチメータ
- 直流電源
- 温度メータ
- ファンクションジェネレータ
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