評価設備リスト のバックアップ差分(No.2)

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 [[所在地]]
 * 評価設備リスト [#z87a972b]
 
 * 金沢大学集積回路工学研究室(MeRL) へのアクセス [#a0d54175]
 [[''&size(11){&color(#ffffff,#483d8b){English};};'':http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/index.php?Access%20Guide]]
 - 金沢大学集積回路工学研究室(MERL)は、金沢大学角間キャンパス自然科学研究科（自然研）2号館7階にあります。バスは、金沢大学自然研前で降りてください。
 -- [[金沢大学角間キャンパスまでの交通:http://www.kanazawa-u.ac.jp/university/access/index.html]]
 -- [[角間キャンパスの地図:http://www.kanazawa-u.ac.jp/university/access/full.html]]
 -- [[自然科学研究科（南地区）の建物配置:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/merl/map1.html]]
 -- [[集積回路工学研究室部(MeRL)の部屋配置:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/merl/map2.html]]
 - LSIテスタ
 -- IMS ATS-100（VLSI評価室）
 -- ADVANTEST T2000（東京大学VDEC）
 --- ロジックLSIの機能、動作速度、消費電力などをテストする
 --- [[説明書(ATS-100):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/ims/]]
 --- [[説明書(T2000):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/t2000/]]
 
 :住所:|
 920-1192 石川県金沢市角間町~
 金沢大学大学院自然科学研究科電子情報科学専攻~
 集積回路工学研究室~
 - 収束イオンビーム装置 (FIB)
 -- Fei 200xP（VLSI評価室）故障中
 -- Schlumberger IDS-P2X（東京大学VDEC）
 --- チップの配線を修正する装置。配線層の断面観察も可能
 --- [[説明書(200xP):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/fib/FIB.pdf]]
 --- 説明書(IDS-P2S):作成中
 
 電話/電子メールは、個人ページ（Menu:メンバからリンク）をご覧ください。
 - 電子ビームプローバ (EB Prober)
 -- ADVANTEST E1380A
 --- チップ内の配線を無負荷でプローブして信号波形を調べる装置
 --- [[説明書(200xP):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/ebtest/]]
 
 - 半導体パラメータアナライザ
 -- HP 4156A
 
 - セミオートプローバ
 -- 東京精密
 --- ベアチップと計測器を直流接続する
 
 - RFプローバ
 --カスケードマイクロテック 
 --- ベアチップと計測器を高周波接続する
 
 - 信号発生器
 - ネットワークアナライザ
 - オシロスコープ
 - LCRメータ
 - 周波数カウンタ
 - 高抵抗メータ
 - ナノボルトメータ
 - マルチメータ
 - 直流電源
 - 温度メータ
 - ファンクションジェネレータ