Chip Photo Gallery 2004 のバックアップ差分(No.1)

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 |>|>|~特定小電力無線トランシーバ |
 |試作ラン名|第4回 TSMC 0.25um|#ref(./tsmc-chip-allsn.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2005/2/2 |~|
 |ダイサイズ|4.0mm |~|
 |設計者氏名|有賀健太、伊藤久浩、中野伸吾、早瀬佳、前田智博、村上知倫、高田雅史|~|
 |測定結果|PLL以外完全動作 |~|
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 |>|>|~微小物体可視化センサ |
 |試作ラン名|第6回 ローム 0.35um|#ref(./P5120172sn.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2005/1/31|~|
 |ダイサイズ|4.9mm |~|
 |設計者氏名|中江智 |~|
 |測定結果|一部動作 |~|
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 |>|>|~微小物体可視化センサ測定用回路 |
 |試作ラン名|第6回 ローム 0.35um|#ref(./P5120162sn.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2005/1/31|~|
 |ダイサイズ|2.3mm|~|
 |設計者氏名|中江智|~|
 |測定結果|一部動作|~|
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 |>|>|~特定小電力無線用PLL、VCO、スパイラルインダクタTEG|
 |試作ラン名|第1回 ローム 0.35um |#ref(./04rohm1-4s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2004/6/28 |~|
 |ダイサイズ|4.9mm |~|
 |設計者氏名|有賀健太、伊藤久浩|~|
 |測定結果|VCO, PLL 完全動作|~|
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 |>|>|~二次Δ−ΣADC、スーパーカスコードOP-Amp、相変化メモリセル測定用TEG|
 |試作ラン名|第1回 ローム 0.35um|#ref(./04rohm1-3s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2004/6/28 |~|
 |ダイサイズ|4.9mm|~|
 |設計者氏名|中野伸吾、早瀬佳、泉貴富、高田雅史|~|
 |測定結果|2次Δ-ΣADC：動作せず。スーパーカスコードOP-AMP完全動作 |~|
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 |>|>|~特定小電力無線用RFフロントエンド、バラクタTEG、スパイラルインダクタTEG |
 |試作ラン名|第1回 ローム 0.35um|#ref(./04rohm1-2s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2004/6/28|~|
 |ダイサイズ|4.9mm |~|
 |設計者氏名|有賀健太、伊藤久浩 |~|
 |測定結果|完全動作 |~|
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 |>|>|~特定小電力無線受信IC|
 |試作ラン名|第1回 ローム 0.35um |#ref(./04rohm1-1s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2004/6/28 |~|
 |ダイサイズ|4.9mm |~|
 |設計者氏名|有賀健太、伊藤久浩、中野伸吾、早瀬佳|~|
 |測定結果|RF段完全動作，IF段未測定 |~|
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