Chip Photo Gallery 2005 のバックアップ(No.3)

バックアップ一覧
差分を表示
現在との差分を表示
ソースを表示
Chip Photo Gallery 2005 へ行く。
- 1 (2006-04-20 (木) 12:09:35)
- 2 (2007-03-06 (火) 16:46:47)
- 3 (2007-03-06 (火) 19:14:40)
- 4 (2008-04-03 (木) 23:30:43)

フルディジタル・マイクロディスプレイ
試作ラン名	第6回 ROHM 0.35um	#ref(): The style ref(filename,pagename) is ambiguous and become obsolete. Please try ref(pagename/filname)
設計年月日	2005/9/26
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	平木謙次, 金子康隆
測定結果	1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良	large size

微小物体可視化センサ
試作ラン名	第8回 ROHM 0.35um
設計年月日	2005/11/21
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	馬村哲郎
測定結果	アドレスデコーダ以外は動作	large size

微小物体可視化センサ評価用回路
試作ラン名	第8回 ROHM 0.35um
設計年月日	2005/11/21
ダイサイズ	2,400um
設計者氏名	馬村哲郎
測定結果	トランジスタサイズに依存して動作	large size

相変化メモリ評価回路
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um	#ref(): The style ref(filename,pagename) is ambiguous and become obsolete. Please try ref(pagename/filname)
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	2,400um
設計者氏名	泉貴富
測定結果	評価中	large size

LSIテスタ/EBプローバ評価チップ
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um	#ref(): The style ref(filename,pagename) is ambiguous and become obsolete. Please try ref(pagename/filname)
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	金子康隆
測定結果	LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中	large size

LSI設計コンテスト#1
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	酒田二三也
測定結果	完全動作(2.0V, 77ns/cycle)	large size

LSI設計コンテスト#2
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um	#ref(): The style ref(filename,pagename) is ambiguous and become obsolete. Please try ref(pagename/filname)
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	中山雅文
測定結果	一部動作不良	large size

LSI設計コンテスト#3
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um	#ref(): The style ref(filename,pagename) is ambiguous and become obsolete. Please try ref(pagename/filname)
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	野手翔太
測定結果	一部動作不良	large size

LSI設計コンテスト#4
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um	#ref(): The style ref(filename,pagename) is ambiguous and become obsolete. Please try ref(pagename/filname)
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	小林正雄
測定結果	評価中	large size

LSI設計コンテスト#5
試作ラン名	第11回 ROHM 0.35um
設計年月日	2006/2/20
ダイサイズ	4,900um
設計者氏名	駒屋礼治
測定結果	評価中	large size