Chip Photo Gallery 2005 のバックアップ差分(No.4)

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Chip Photo Gallery 2005 へ行く。
- 1 (2006-04-20 (木) 12:09:35)
- 2 (2007-03-06 (火) 16:46:47)
- 3 (2007-03-06 (火) 19:14:40)
- 4 (2008-04-03 (木) 23:30:43)
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 |>|>|~フルディジタル・マイクロディスプレイ |
 |試作ラン名|第6回 ROHM 0.35um|#ref(./,100x100)|
 |設計年月日|2005/9/26 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |設計者氏名|平木謙次, 金子康隆|~|
 |測定結果|1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
 ~
 |>|>|~微小物体可視化センサ |
 |試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240269_s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2005/11/21 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |設計者氏名|馬村哲郎|~|
 |測定結果|アドレスデコーダ以外は動作 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
 |測定結果|アドレスデコーダ以外は動作 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P2240269.jpg]]|
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 |>|>|~微小物体可視化センサ評価用回路 |
 |試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240266_s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2005/11/21 |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|馬村哲郎|~|
 |測定結果|トランジスタサイズに依存して動作 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
 |測定結果|トランジスタサイズに依存して動作 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P2240266.jpg]]|
 ~
 |>|>|~相変化メモリ評価回路 |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./,100x100)|
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./p4020005s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |設計者氏名|泉貴富|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/p4020005.jpg]]|
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 |>|>|~LSIテスタ/EBプローバ評価チップ |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|金子康隆|~|
 |測定結果|LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
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 |>|>|~LSI設計コンテスト#1 |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_sakata_s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|酒田二三也|~|
 |測定結果|完全動作(2.0V, 77ns/cycle) |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_sakata.jpg]]|
 |測定結果|完全動作(2.0V, 77ns/cycle) |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_sakata.jpg]]|
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 |>|>|~LSI設計コンテスト#2 |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|中山雅文|~|
 |測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
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 |>|>|~LSI設計コンテスト#3 |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|野手翔太|~|
 |測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
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 |>|>|~LSI設計コンテスト#4 |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|小林正雄|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/]]|
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 |>|>|~LSI設計コンテスト#5 |
 |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_komaya_s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/2/20 |~|
 |ダイサイズ|4,900um |~|
 |ダイサイズ|2,400um |~|
 |設計者氏名|駒屋礼治|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_komaya.jpg]]|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_komaya.jpg]]|
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