Chip Photo Gallery 2008 のバックアップの現在との差分(No.2)

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- 1 (2009-03-08 (日) 17:50:52)
- 2 (2009-03-08 (日) 17:59:54)
- 3 (2009-03-11 (水) 19:11:06)

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[[Chip Photo Gallery 2008]]
 
 |>|>|~eShuttle社 CMOS 65nm　ESRセンサ |
 |試作ラン名| ES 65nm|#ref(./p3070013st.jpg,100x49)|
 |試作ラン名| ES6508:001|#ref(./p3070013sovs.jpg,100x49)|
 |設計年月日|2008/11/18 |~|
 |ダイサイズ|4.2mm X 2.1mm |~|
 |設計者氏名|安田、崔、北川|~|
 |測定結果|評価中. 平坦化が完全であるためキャパシタしか見えない. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/p3070013s.jpg]]|
 |測定結果|位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. 写真はレイアウトデータのオーバレイ. 平坦化が完全であるため写真ではキャパシタしか見えない. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/p3070013sov.jpg]]|
 ~
 |>|>|~ROHM社 CMOS 180nm　ランダム画素配置高精細CMOSイメージセンサ/スペクトラムセンサTEG/パッケージ特性TEG |
 |試作ラン名| RO1808_10|#ref(./2008rohm180nm_10-1-100.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2009/02/16 |~|
 |ダイサイズ|2.4mm X 2.4mm |~|
 |設計者氏名|秋田、北川|~|
 |測定結果|評価中. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/2008rohm180nm_10-1.jpg]]|
 ~