~ |>|>|~相変化不揮発性メモリテストチップVER.1 | |試作ラン名|第2回 モトローラ 1.2um |#ref(./00MOT0001-MEM1.jpg,100x100)| |設計年月日|2001/4/1 |~| |ダイサイズ|4.8mm |~| |設計者氏名|福島早奈恵|~| |測定結果|未測定|~| |測定結果|未測定|CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2000/00MOT0001-MEM1.jpg]]| ~ |>|>|~LSIテスタ/EBプローバ実習用チップ | |試作ラン名|第1回 モトローラ 1.2um |#ref(./00MOT103-2.jpg,100x100)| |設計年月日|2000/10/2 |~| |ダイサイズ|2.3mm |~| |設計者氏名|北川章夫|~| |測定結果|完全動作 |~| |測定結果|完全動作 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2000/00MOT103-2.jpg]]| ~ |>|>|~相変化型メモリーセル | |試作ラン名|第1回 モトローラ 1.2um|#ref(./00MOT102-2.jpg,100x100)| |設計年月日|2000/10/2 |~| |ダイサイズ|2.3mm |~| |設計者氏名|福島早奈恵|~| |測定結果|未測定 |~| |測定結果|未測定 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2000/00MOT102-2.jpg]]| ~ |>|>|~4年生フルカスタム設計演習 | |試作ラン名|第1回 モトローラ 1.2um|#ref(./00MOT101-2.jpg,100x100)| |設計年月日|2000/10/2 |~| |ダイサイズ|2.3mm |~| |設計者氏名|遠山治・伊藤康朗・中村毎良・小谷明也・福島早奈恵・横山貴巨 |~| |測定結果|完全動作 |~| |測定結果|完全動作 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2000/00MOT101-2.jpg]]| ~ |>|>|~光インターフェース用LSI| |試作ラン名|第1回 ローム0.6um |#ref(./00ROHM102.jpg,100x100)| |設計年月日|2000/6/19 |~| |ダイサイズ|4.6mm |~| |設計者氏名|藤田隼人、中村公亮 |~| |測定結果|完全動作|~| |測定結果|完全動作|CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2000/00ROHM102.jpg]]| ~ |>|>|~光インターフェースLSI用TEG| |試作ラン名|第1回 ローム0.6um |#ref(./00ROHM101.jpg,100x100)| |設計年月日|2000/6/19|~| |ダイサイズ|4.6mm |~| |設計者氏名|藤田隼人、中村公亮 |~| |測定結果|完全動作|~| |測定結果|完全動作|CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2000/00ROHM101.jpg]]| ~