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 |>|>|~ローム社 CMOS0.18umテストラン　評価用チップ１ |
 |試作ラン名|第1回 ROHM 0.18umテストラン|#ref(./rohm018_0s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/5/19 |~|
 |ダイサイズ|5,180um |~|
 |設計者氏名|高田雅史、中野伸吾、早瀬佳、高木宏章、村上知倫、牧野良成|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2006/rohm018_0.jpg]]|
 ~
 |>|>|~ローム社 CMOS0.18umテストラン　評価用チップ２ |
 |試作ラン名|第1回 ROHM 0.18umテストラン|#ref(./rohm018_1s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/5/19 |~|
 |ダイサイズ|5,180um |~|
 |設計者氏名|高田雅史、中野伸吾、早瀬佳、高木宏章、村上知倫、牧野良成|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2006/rohm018_1.jpg]]|
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 |>|>|~ローム社 CMOS0.18um第1回試作　MIMO対応426MHz送信IC及び953MHzパッシブ型センサタグ要素回路,TEG |
 |>|>|~ローム社 CMOS0.18um第1回試作　MIMO対応426MHz送信機及び953MHzパッシブ型センサタグ要素回路,TEG |
 |試作ラン名|2006年度 ROHM 0.18um第1回試作|#ref(./R018_060919_R1100s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/9/19 |~|
 |ダイサイズ|2,500um |~|
 |設計者氏名|中野伸吾、早瀬佳、牧野良成、藤枝茂|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2006/R018_060919_R1100l.jpg]]|
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 |>|>|~ローム社 CMOS0.18um第1回試作　MIMO対応426MHz送信機、要素回路,TEG |
 |試作ラン名|2006年度 ROHM 0.18um第1回試作|#ref(./R018_060919_R1101s.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2006/9/19 |~|
 |ダイサイズ|2,500um |~|
 |設計者氏名|中野伸吾、早瀬佳、牧野良成、藤枝茂|~|
 |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2006/R018_060919_R1101l.jpg]]|
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