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Chip Photo Gallery 2005 の編集

-- 雛形とするページ -- *作業日誌テンプレート 2006花見 2007花見 3次元触覚センサ Access Guide Anggota Lab/複製 Bahasa BracketName Cakupan Penelitian Chinese Chip Photo Gallery Chip Photo Gallery 2000 Chip Photo Gallery 2001 Chip Photo Gallery 2002 Chip Photo Gallery 2003 Chip Photo Gallery 2004 Chip Photo Gallery 2005 Chip Photo Gallery 2006 Chip Photo Gallery 2007 Chip Photo Gallery 2008 Chip Photo Gallery ~1999 English FormattingRules FrontPage Help InterWiki InterWikiName InterWikiSandBox InterWikiテクニカル Kanazawa Univ. VDEC MeRLが期待する4年生 MeRLの研究方法 MeRLの研究目標 Members MenuBar PHP Panduan Akses Personnel Proxi-Vision センサ PukiWiki PukiWiki/1.4 PukiWiki/1.4/Manual PukiWiki/1.4/Manual/Plugin PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/A-D PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/E-G PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/H-K PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/L-N PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/O-R PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/S-U PukiWiki/1.4/Manual/Plugin/V-Z RFIDを用いた介護支援センサシステム ReRAMの書き込み抵抗制御回路と多値記録回路 RecentDeleted Related Site Research Projects SandBox Situs Terkait Sponsor Sponsorship The Korean language Thesis Subjects Top Page (English) WikiEngines WikiName WikiWikiWeb YukiWiki butchi kawai kimura komatsubara korea saiki uesaka vdec2pc汎用インタフェースの設計と試作 wada/201006 wada/test yama yasu yoshimoto ＭＩＭＯを用いたセンサネットワーク アセンブリレベル合成による設計環境の作成 ウェアラブルコンピュータ用の導電性衣服を用いたネットワークシステム コメント/handa コメント/komatsubara コメント/uesaka コメント/金大列伝 スペクトラムセンサと高速サーモビジョン スポンサー スマートフォンを用いた環境モニタリングシステム センサインテグレーションとボディエリアネットワーク デュアルバンド無線通信LSI（北川） バイオアクチュエータチップ パッシブ型バイオアイソレーションセンサ プラズマ発光センサ ヘルプ ボトムアップ式電子工作 メンバ ユビキタス気象観測センサノード 仮想触覚生成チップ 過去のTopics 過去の研究テーマ 介護支援のためのボディエリア無線ネットワーク(BAN)の開発 汗腺検出/刺激センサ 環境モニタのためのチューリンガルサーバの構築 関連リンク 近接場光を用いたスペクトルセンサLSIの開発 金大列伝 金沢大学VDEC 研究プロジェクト 研究紹介パンフレット 公開IPリスト 抗加齢医療のための活性酸素センサLSIの開発 高機能なカメラ向けのイメージセンサ 高精細ディスプレイ 高度道路交通システム対応超広帯域低雑音伝送LSIの開発 試作チップギャラリー 次世代不揮発性メモリRRAMのCMOSインテグレーション 所在地/アクセス 新聞報道等 人工触覚毛LSIおよび触覚の2次元画像化技術の開発 整形ルール 相変化材料を用いた次世代不揮発性メモリ技術の開発 卒業研究題目 卒業生 卒業生.bak 低品質電力加算回路 電子スピン共鳴ラジカルセンサ 日本語 燃料水位センサ（北川） 発表文献等 評価設備リスト 無線空力計測センサ
~ |>|>|~フルディジタル・マイクロディスプレイ | |試作ラン名|第6回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030007s.jpg,100x100)| |設計年月日|2005/9/26 |~| |ダイサイズ|4,900um |~| |設計者氏名|平木謙次, 金子康隆|~| |測定結果|1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030007.jpg]]| ~ |>|>|~微小物体可視化センサ | |試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240269_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2005/11/21 |~| |ダイサイズ|4,900um |~| |設計者氏名|馬村哲郎|~| |測定結果|アドレスデコーダ以外は動作 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P2240269.jpg]]| ~ |>|>|~微小物体可視化センサ評価用回路 | |試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240266_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2005/11/21 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|馬村哲郎|~| |測定結果|トランジスタサイズに依存して動作 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P2240266.jpg]]| ~ |>|>|~相変化メモリ評価回路 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./p4020005s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|4,900um |~| |設計者氏名|泉貴富|~| |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/p4020005.jpg]]| ~ |>|>|~LSIテスタ/EBプローバ評価チップ | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./lab-ats-ebt2s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|金子康隆|~| |測定結果|LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/lab-ats-ebt2.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#1 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_sakata_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|酒田二三也|~| |測定結果|完全動作(2.0V, 77ns/cycle) |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_sakata.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#2 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030011s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|中山雅文|~| |測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030011.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#3 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030004s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|野手翔太|~| |測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030004.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#4 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030002s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|小林正雄|~| |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030002.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#5 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_komaya_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|駒屋礼治|~| |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_komaya.jpg]]| ~
~ |>|>|~フルディジタル・マイクロディスプレイ | |試作ラン名|第6回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030007s.jpg,100x100)| |設計年月日|2005/9/26 |~| |ダイサイズ|4,900um |~| |設計者氏名|平木謙次, 金子康隆|~| |測定結果|1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030007.jpg]]| ~ |>|>|~微小物体可視化センサ | |試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240269_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2005/11/21 |~| |ダイサイズ|4,900um |~| |設計者氏名|馬村哲郎|~| |測定結果|アドレスデコーダ以外は動作 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P2240269.jpg]]| ~ |>|>|~微小物体可視化センサ評価用回路 | |試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240266_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2005/11/21 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|馬村哲郎|~| |測定結果|トランジスタサイズに依存して動作 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P2240266.jpg]]| ~ |>|>|~相変化メモリ評価回路 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./p4020005s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|4,900um |~| |設計者氏名|泉貴富|~| |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/p4020005.jpg]]| ~ |>|>|~LSIテスタ/EBプローバ評価チップ | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./lab-ats-ebt2s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|金子康隆|~| |測定結果|LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/lab-ats-ebt2.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#1 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_sakata_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|酒田二三也|~| |測定結果|完全動作(2.0V, 77ns/cycle) |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_sakata.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#2 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030011s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|中山雅文|~| |測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030011.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#3 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030004s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|野手翔太|~| |測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030004.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#4 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030002s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|小林正雄|~| |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/P4030002.jpg]]| ~ |>|>|~LSI設計コンテスト#5 | |試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_komaya_s.jpg,100x100)| |設計年月日|2006/2/20 |~| |ダイサイズ|2,400um |~| |設計者氏名|駒屋礼治|~| |測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2005/2005contest_komaya.jpg]]| ~

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