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Chip Photo Gallery 2008 の編集

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[[Chip Photo Gallery 2008]] |>|>|~eShuttle社 CMOS 65nm　ESRセンサ | |試作ラン名| ES6508:001|#ref(./p3070013sovs.jpg,100x49)| |設計年月日|2008/11/18 |~| |ダイサイズ|4.2mm X 2.1mm |~| |設計者氏名|安田、崔、北川|~| |測定結果|位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. 写真はレイアウトデータのオーバレイ. 平坦化が完全であるため写真ではキャパシタしか見えない. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/p3070013sov.jpg]]| ~ |>|>|~ROHM社 CMOS 180nm　ランダム画素配置高精細CMOSイメージセンサ/スペクトラムセンサTEG/パッケージ特性TEG | |試作ラン名| RO1808_10|#ref(./2008rohm180nm_10-1-100.jpg,100x100)| |設計年月日|2009/02/16 |~| |ダイサイズ|2.4mm X 2.4mm |~| |設計者氏名|秋田、北川|~| |測定結果|評価中. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/2008rohm180nm_10-1.jpg]]| ~
[[Chip Photo Gallery 2008]] |>|>|~eShuttle社 CMOS 65nm　ESRセンサ | |試作ラン名| ES6508:001|#ref(./p3070013sovs.jpg,100x49)| |設計年月日|2008/11/18 |~| |ダイサイズ|4.2mm X 2.1mm |~| |設計者氏名|安田、崔、北川|~| |測定結果|位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. 写真はレイアウトデータのオーバレイ. 平坦化が完全であるため写真ではキャパシタしか見えない. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/p3070013sov.jpg]]| ~ |>|>|~ROHM社 CMOS 180nm　ランダム画素配置高精細CMOSイメージセンサ/スペクトラムセンサTEG/パッケージ特性TEG | |試作ラン名| RO1808_10|#ref(./2008rohm180nm_10-1-100.jpg,100x100)| |設計年月日|2009/02/16 |~| |ダイサイズ|2.4mm X 2.4mm |~| |設計者氏名|秋田、北川|~| |測定結果|評価中. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/2008rohm180nm_10-1.jpg]]| ~

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