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Thesis Subjects
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Total:0/Today:0
Chip Photo Gallery 2005 をテンプレートにして作成
開始行:
~
|>|>|~フルディジタル・マイクロディスプレイ |
|試作ラン名|第6回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030007s.jpg,100x10...
|設計年月日|2005/9/26 |~|
|ダイサイズ|4,900um |~|
|設計者氏名|平木謙次, 金子康隆|~|
|測定結果|1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良 |CENTER:[[la...
~
|>|>|~微小物体可視化センサ |
|試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240269_s.jpg,100x1...
|設計年月日|2005/11/21 |~|
|ダイサイズ|4,900um |~|
|設計者氏名|馬村哲郎|~|
|測定結果|アドレスデコーダ以外は動作 |CENTER:[[large size...
~
|>|>|~微小物体可視化センサ評価用回路 |
|試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240266_s.jpg,100x1...
|設計年月日|2005/11/21 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|馬村哲郎|~|
|測定結果|トランジスタサイズに依存して動作 |CENTER:[[larg...
~
|>|>|~相変化メモリ評価回路 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./p4020005s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|4,900um |~|
|設計者氏名|泉貴富|~|
|測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.ka...
~
|>|>|~LSIテスタ/EBプローバ評価チップ |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./lab-ats-ebt2s.jpg,1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|金子康隆|~|
|測定結果|LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中 |CENTER...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#1 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_sakata_...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|酒田二三也|~|
|測定結果|完全動作(2.0V, 77ns/cycle) |CENTER:[[large size...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#2 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030011s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|中山雅文|~|
|測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.e...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#3 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030004s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|野手翔太|~|
|測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.e...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#4 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030002s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|小林正雄|~|
|測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.ka...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#5 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_komaya_...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|駒屋礼治|~|
|測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.ka...
~
終了行:
~
|>|>|~フルディジタル・マイクロディスプレイ |
|試作ラン名|第6回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030007s.jpg,100x10...
|設計年月日|2005/9/26 |~|
|ダイサイズ|4,900um |~|
|設計者氏名|平木謙次, 金子康隆|~|
|測定結果|1bit型完全動作, 8bit型一部動作不良 |CENTER:[[la...
~
|>|>|~微小物体可視化センサ |
|試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240269_s.jpg,100x1...
|設計年月日|2005/11/21 |~|
|ダイサイズ|4,900um |~|
|設計者氏名|馬村哲郎|~|
|測定結果|アドレスデコーダ以外は動作 |CENTER:[[large size...
~
|>|>|~微小物体可視化センサ評価用回路 |
|試作ラン名|第8回 ROHM 0.35um|#ref(./P2240266_s.jpg,100x1...
|設計年月日|2005/11/21 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|馬村哲郎|~|
|測定結果|トランジスタサイズに依存して動作 |CENTER:[[larg...
~
|>|>|~相変化メモリ評価回路 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./p4020005s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|4,900um |~|
|設計者氏名|泉貴富|~|
|測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.ka...
~
|>|>|~LSIテスタ/EBプローバ評価チップ |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./lab-ats-ebt2s.jpg,1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|金子康隆|~|
|測定結果|LSIテスタ部完全動作, EBプローバ部評価中 |CENTER...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#1 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_sakata_...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|酒田二三也|~|
|測定結果|完全動作(2.0V, 77ns/cycle) |CENTER:[[large size...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#2 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030011s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|中山雅文|~|
|測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.e...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#3 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030004s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|野手翔太|~|
|測定結果|一部動作不良 |CENTER:[[large size:http://jaco.e...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#4 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./P4030002s.jpg,100x1...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|小林正雄|~|
|測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.ka...
~
|>|>|~LSI設計コンテスト#5 |
|試作ラン名|第11回 ROHM 0.35um|#ref(./2005contest_komaya_...
|設計年月日|2006/2/20 |~|
|ダイサイズ|2,400um |~|
|設計者氏名|駒屋礼治|~|
|測定結果|評価中 |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.ka...
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