Menu

English
Bahasa
中文
한국어

最新の10件
2024-04-24 2024-04-19 2024-04-17 2024-03-29 2023-09-25 2023-07-20 2023-06-28 2023-06-07 2023-03-23 2023-02-28

edit

  • Total:7832/Today:1

Top / Chip Photo Gallery 2008
Chip Photo Gallery 2008

Last update on 2014-04-23 (水) 16:49:37 (3657d) | 編集 | 凍結 | 複製 | 名前変更 | 差分 | バックアップ | 添付

Chip Photo Gallery 2008

eShuttle社 CMOS 65nm　ESRセンサ
試作ラン名ES6508:001
p3070013sovs.jpg
設計年月日2008/11/18
ダイサイズ4.2mm X 2.1mm
設計者氏名安田、崔、北川
測定結果位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. 写真はレイアウトデータのオーバレイ. 平坦化が完全であるため写真ではキャパシタしか見えない.large size


ROHM社 CMOS 180nm　ランダム画素配置高精細CMOSイメージセンサ/スペクトラムセンサTEG/パッケージ特性TEG
試作ラン名RO1808_10
2008rohm180nm_10-1-100.jpg
設計年月日2009/02/16
ダイサイズ2.4mm X 2.4mm
設計者氏名秋田、北川
測定結果評価中.large size


添付ファイル: file2008rohm180nm_10-1-100.jpg 4918件 [詳細] filep3070013sovs.jpg 11548件 [詳細] filep3070013st.jpg 5473件 [詳細]