Chip Photo Gallery 2001 のバックアップ(No.1)

バックアップ一覧
差分を表示
現在との差分を表示
ソースを表示
Chip Photo Gallery 2001 へ行く。
- 1 (2006-04-19 (水) 21:30:56)
- 2 (2006-04-19 (水) 21:50:53)
- 3 (2006-04-20 (木) 02:17:07)

相変化不揮発性メモリ（改良版）
試作ラン名	第2回ローム 0.6um
設計年月日	2001/11/5
ダイサイズ	4.6mm
設計者氏名	福島早奈恵
測定結果	完全動作

光インターフェース
試作ラン名	第2回ローム 0.6um
設計年月日	2001/11/5
ダイサイズ	4.6mm
設計者氏名	山田裕志
測定結果	完全動作

SIMS 測定 TEG (n-ch)
試作ラン名	第1回ローム 0.35um
設計年月日	2001/8/27
ダイサイズ	4.9mm
設計者氏名	北川章夫
測定結果	未測定

フォトダイオードTEG
試作ラン名	第1回ローム 0.35um
設計年月日	2001/8/27
ダイサイズ	4.9mm
設計者氏名	山田裕志
測定結果	未測定

光インターフェースLSI のI-V 変換回路　Ver.2
試作ラン名	第1回日立北海セミコンダクタ 0.5um
設計年月日	2001/9/17
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	深山正幸、藤田隼人、中村公亮
測定結果	未測定

光インターフェースLSI のI-V 変換回路　Ver.1
試作ラン名	第1回日立北海セミコンダクタ 0.5um
設計年月日	2001/9/17
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	深山正幸、藤田隼人、中村公亮
測定結果	未測定

相変化型不揮発性メモリ
試作ラン名	第1回ローム 0.6um
設計年月日	2001/6/25
ダイサイズ	4.6mm
設計者氏名	福島早奈恵
測定結果	未測定

2001年LSI設計コンテスト＃1
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2.3mm
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	源貴利、北畑隼遠、小島康、高田雅史、高橋司、北川章夫
測定結果	一部を除いて動作

2001年LSI設計コンテスト＃2
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2.3mm
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	杉木智恵、西吉彦、前田喬行、福島早奈恵
測定結果	完全動作

LSIテスタ/EBプローバ実習用チップ VER.3
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2001/10/1
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	北川章夫
測定結果	完全動作

複素乗算器/逐次比較コントローラ
試作ラン名	第1回オンセミ 1.2um
設計年月日	2001/10/1
ダイサイズ	2.3mm
設計者氏名	北川章夫
測定結果	完全動作