評価設備リスト のバックアップ(No.7)
- LSIテスタ
- IMS ATS-100(VLSI評価室)
- ADVANTEST T2000(東京大学VDEC)
- 収束イオンビーム装置 (FIB)
- Fei 200xP(VLSI評価室)故障中
- Schlumberger IDS-P2X(東京大学VDEC)
- チップの配線を修正する装置。配線層の断面観察も可能。
- 説明書(200xP)
- 説明書(IDS-P2S):作成中
- 電子ビームプローバ (EB Prober)
- ADVANTEST E1380A(VLSI評価室)故障中
- チップ内の配線を無負荷でプローブして信号波形やスキューを調べる装置
- 説明書
- 半導体パラメータアナライザ
- HP 4156A(VLSI評価室)
- トランジスタの I-V特性などを調べる装置。極微小な電流が測定できる。
- 説明書
- RFプローバ
- Cascade Microtec RF-1(MeRL実験室)
- プロトタイッピングツール
- 三菱電機マイコン機器ソフトウエア Power Medusa MU-200-SX(MeRL実験室)
- ロジックLSIのファンクションテストをPCから行うためのFPGAボード
- 説明書
- 信号発生器
- Agilent E4438C(MeRL実験室)
- 各種通信規格に準拠した高周波変調信号を出力する装置。高精度オプション付き
- ネットワークアナライザ
- HP 4396A + 85046A(MeRL実験室)
- 高周波のインピーダンスや利得の周波数特性を測定する装置
- リアルタイムスペクトラムアナライザ
- Tectronix RSA3000B
- スペクトラムの高速時間変化を測定する装置
- 簡易説明書は、マニュアル集/装置にあります
- ユニバーサルカウンタ
- Agilent 53132A(MeRL実験室)
- 12.4GHzまでの主成分信号の周波数を正確に測定する装置。2チャンネル同時測定対応。
- オシロスコープ
- HP 54540C(MeRL実験室)
- Tektronix TDS2024(MeRL実験室 2台)
- Tektronix TDS2014(MeRL実験室)
- マルチメータ
- HP 34401A(MeRL実験室)
- ADVANTEST R6581D(MeRL実験室)
- YOKOGAWA 7552(MeRL実験室 4台)
- YOKOGAWA 7562(MeRL実験室)
- 直流電源
- YOKOGAWA 7651(MeRL実験室 3台)
- KIKUSUI PMC18-3(MeRL実験室 2台)
- KIKUSUI PMC18-2A(MeRL実験室 3台)
- PMM 18-2.5DU(MeRL実験室)
- TAKASAGO LX018-2A(MeRL実験室 2台)
- ファンクションジェネレータ
- HP 33120(MeRL実験室)
- YOKOGAWA AG1200(MeRL実験室)
- LG FG-7005C(MeRL実験室)
- METEX MXG-9819A(MeRL実験室)
- NFメータ
- Agilent N8973A(MeRL実験室)
- 雑音指数を測定する装置。雑音源付き。50ohm入出力しか測定できない。
- 高速AD変換ボード
- Measurement Computing PCI-DAS4020/12(MeRL実験室)
- 10MS/s*4chのAD変換器(MeRL実験室のPCに内蔵)