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[[所在地]]
* 評価設備リスト [#z87a972b]
* 金沢大学集積回路工学研究室(MeRL) へのアクセス [#a0d54175]
[[''&size(11){&color(#ffffff,#483d8b){English};};'':http://merl.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/index.php?Access%20Guide]]
- 金沢大学集積回路工学研究室(MERL)は、金沢大学角間キャンパス自然科学研究科(自然研)2号館7階にあります。バスは、金沢大学自然研前で降りてください。
-- [[金沢大学角間キャンパスまでの交通:http://www.kanazawa-u.ac.jp/university/access/index.html]]
-- [[角間キャンパスの地図:http://www.kanazawa-u.ac.jp/university/access/full.html]]
-- [[自然科学研究科(南地区)の建物配置:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/merl/map1.html]]
-- [[集積回路工学研究室部(MeRL)の部屋配置:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/merl/map2.html]]
- LSIテスタ
-- IMS ATS-100(VLSI評価室)
-- ADVANTEST T2000(東京大学VDEC)
--- ロジックLSIの機能、動作速度、消費電力などをテストする
--- [[説明書(ATS-100):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/ims/]]
--- [[説明書(T2000):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/t2000/]]
:住所:|
920-1192 石川県金沢市角間町~
金沢大学大学院自然科学研究科電子情報科学専攻~
集積回路工学研究室~
- 収束イオンビーム装置 (FIB)
-- Fei 200xP(VLSI評価室)故障中
-- Schlumberger IDS-P2X(東京大学VDEC)
--- チップの配線を修正する装置。配線層の断面観察も可能
--- [[説明書(200xP):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/fib/FIB.pdf]]
--- 説明書(IDS-P2S):作成中
電話/電子メールは、個人ページ(Menu:メンバからリンク)をご覧ください。
- 電子ビームプローバ (EB Prober)
-- ADVANTEST E1380A
--- チップ内の配線を無負荷でプローブして信号波形を調べる装置
--- [[説明書(200xP):http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/kitagawa/edu/vlsi/ebtest/]]
- 半導体パラメータアナライザ
-- HP 4156A
- セミオートプローバ
-- 東京精密
--- ベアチップと計測器を直流接続する
- RFプローバ
--カスケードマイクロテック
--- ベアチップと計測器を高周波接続する
- 信号発生器
- ネットワークアナライザ
- オシロスコープ
- LCRメータ
- 周波数カウンタ
- 高抵抗メータ
- ナノボルトメータ
- マルチメータ
- 直流電源
- 温度メータ
- ファンクションジェネレータ