評価設備リスト のバックアップ(No.13)
- LSIテスタ
- ロジックLSIのファンクション、動作速度、消費電力などをテストする装置
- IMS ATS-100(VLSI評価室)
- ADVANTEST T2000(東京大学VDEC)
- 収束イオンビーム装置 (FIB)
- チップの配線を修正する装置。配線層の断面観察も可能
- Fei 200xP(VLSI評価室)故障中
- Schlumberger IDS-P2X(東京大学VDEC)
- 電子ビームプローバ (EB Prober)
- チップ内の配線を無負荷でプローブして信号波形やスキューを調べる装置
- ADVANTEST E1380A(VLSI評価室)故障中
- 半導体パラメータアナライザ
- トランジスタの I-V特性などを調べる装置。極微小な電流が測定できる
- RFプローバ
- Cascade Microtec RF-1(MeRL実験室)
- ワイヤーボンダ
- ベアチップをプリント基板に直接実装するときの配線装置
- プロトタイッピングツール
- ロジックLSIのファンクションテストをPCから行うためのFPGAボード
- 三菱電機マイコン機器ソフトウエア Power Medusa MU-200-SX(MeRL実験室)
- 高周波信号発生器
- 各種通信規格に準拠した高周波変調信号を出力する装置。高精度オプション・ベースバンド信号・RF位相制御機能付き
- Rohde&Schwaltz SMBV100A (MeRL実験室 2台)
- Agilent E4438C(MeRL実験室)
- ネットワークアナライザ
- 高周波のインピーダンスや利得の周波数特性を測定する装置
- HP 4396A + 85046A(MeRL実験室)
- Rohde&Schwaltz ZVL13(MeRL実験室)
- 非線形性評価などが可能なスペアナオプションが付いています
- ユニバーサルカウンタ
- 12.4GHzまでの主成分信号の周波数を正確に測定する装置。2チャンネル同時測定対応
- オシロスコープ
- HP 54540C(MeRL実験室)
- Tektronix TDS2024(MeRL実験室 2台)
- Tektronix TDS2024B(MeRL実験室 5台)
- Tektronix TDS2014(MeRL実験室)
- マルチメータ
- Tektronix DMM4040(MeRL実験室 2台)
- HP 34401A(MeRL実験室)
- ADVANTEST R6581D(MeRL実験室)
- YOKOGAWA 7552(MeRL実験室 4台)
- YOKOGAWA 7562(MeRL実験室)
- 直流電源
- YOKOGAWA 7651(MeRL実験室 3台)
- KIKUSUI PMC18-3(MeRL実験室 2台)
- KIKUSUI PMC18-2A(MeRL実験室 3台)
- KIKUSUI PMM 18-2.5DU(MeRL実験室)
- KIKUSUI KDS6-0.2TR(MeRL実験室)
- TAKASAGO LX018-2A(MeRL実験室 2台)
- ADCMT 6146(MeRL実験室)
- 温度計
- 熱電対や白金抵抗体による電子式温度計。気温測定であれば内蔵温度センサも利用可能
- ファンクションジェネレータ
- HP 33120(MeRL実験室)
- YOKOGAWA AG1200(MeRL実験室)
- LG FG-7005C(MeRL実験室)
- METEX MXG-9819A(MeRL実験室)
- NFメータ
- 雑音指数を測定する装置。雑音源付き。50ohm入出力しか測定できない
- 高速AD変換ボード
- 10MS/s*4chのAD変換器(MeRL実験室のPCに内蔵)
- Measurement Computing PCI-DAS4020/12(MeRL実験室)
- GPIB(IEEE488)インタフェース
- HS488.2規格の計測器とPCをUSB接続するケーブル
- NI GPIB-USB-HS(MeRL実験室 2台)