Chip Photo Gallery 2000 のバックアップ差分(No.1)

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- 1 (2006-04-19 (水) 21:24:10)
- 2 (2006-04-19 (水) 21:25:00)

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 |>|>|~相変化不揮発性メモリテストチップVER.1 |
 |試作ラン名|第2回 モトローラ 1.2um |#ref(./00MOT0001-MEM1.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2001/4/1 |~|
 |ダイサイズ|4.8mm |~|
 |設計者氏名|福島早奈恵|~|
 |測定結果|未測定|~|
 ~
 |>|>|~LSIテスタ/EBプローバ実習用チップ |
 |試作ラン名|第1回 モトローラ 1.2um |#ref(./00MOT103-2.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2000/10/2 |~|
 |ダイサイズ|2.3mm |~|
 |設計者氏名|北川章夫|~|
 |測定結果|完全動作 |~|
 ~
 |>|>|~相変化型メモリーセル |
 |試作ラン名|第1回 モトローラ 1.2um|#ref(./00MOT102-2.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2000/10/2 |~|
 |ダイサイズ|2.3mm |~|
 |設計者氏名|福島早奈恵|~|
 |測定結果|未測定 |~|
 ~
 |>|>|~4年生フルカスタム設計演習 |
 |試作ラン名|第1回 モトローラ 1.2um|#ref(./00MOT101-2.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2000/10/2 |~|
 |ダイサイズ|2.3mm |~|
 |設計者氏名|遠山治・伊藤康朗・中村毎良・小谷明也・福島早奈恵・横山貴巨 |~|
 |測定結果|完全動作 |~|
 ~
 |>|>|~光インターフェース用LSI|
 |試作ラン名|第1回 ローム0.6um |#ref(./00ROHM102.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2000/6/19 |~|
 |ダイサイズ|4.6mm |~|
 |設計者氏名|藤田隼人、中村公亮 |~|
 |測定結果|完全動作|~|
 ~
 |>|>|~光インターフェースLSI用TEG|
 |試作ラン名|第1回 ローム0.6um |#ref(./00ROHM101.jpg,100x100)|
 |設計年月日|2000/6/19|~|
 |ダイサイズ|4.6mm |~|
 |設計者氏名|藤田隼人、中村公亮 |~|
 |測定結果|完全動作|~|