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[[Chip Photo Gallery 2008]]
|>|>|~eShuttle社 CMOS 65nm ESRセンサ |
|試作ラン名| ES 65nm|#ref(./p3070013st.jpg,100x49)|
|試作ラン名| ES6508:001|#ref(./p3070013sovs.jpg,100x49)|
|設計年月日|2008/11/18 |~|
|ダイサイズ|4.2mm X 2.1mm |~|
|設計者氏名|安田、崔、北川|~|
|測定結果|評価中. 平坦化が完全であるためキャパシタしか見えない. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/p3070013s.jpg]]|
|測定結果|位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. 写真はレイアウトデータのオーバレイ. 平坦化が完全であるため写真ではキャパシタしか見えない. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/p3070013sov.jpg]]|
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|>|>|~ROHM社 CMOS 180nm ランダム画素配置高精細CMOSイメージセンサ/スペクトラムセンサTEG/パッケージ特性TEG |
|試作ラン名| RO1808_10|#ref(./2008rohm180nm_10-1-100.jpg,100x100)|
|設計年月日|2009/02/16 |~|
|ダイサイズ|2.4mm X 2.4mm |~|
|設計者氏名|秋田、北川|~|
|測定結果|評価中. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.kanazawa-u.ac.jp/chip/2008/2008rohm180nm_10-1.jpg]]|
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