Chip Photo Gallery ~1999 のバックアップ(No.1)

相変化型不揮発性メモリ用パルスジェネレータ
試作ラン名99年度 日立テストラン0.35um

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設計年月日2000/1/8
ダイサイズ5.9mm
設計者氏名秋田純一、北川章夫
測定結果未測定


4年生フルカスタム設計演習
試作ラン名99年度 第1回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1999/10/2
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名笠井稔彦・佐々木勝光・大門慎二・高松直樹・辻川隆俊・遠山治・中村公亮・蓮達弘・水木誠
測定結果完全動作


実時間色情報抽出回路
試作ラン名1999年度 第1回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1999/10/2
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名秋田純一
測定結果未測定


重心検出LSI
試作ラン名99年度 第2回 ローム0.6um

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設計年月日1999/8/24
ダイサイズ4.5mm
設計者氏名高瀬信二
測定結果未測定


99年度 第2回 ローム0.6um
試作ラン名99年度 第2回 ローム0.6um

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設計年月日1999/8/24
ダイサイズ4.5mm
設計者氏名今井豊
測定結果完全動作


4年生フルカスタム設計演習
試作ラン名98年度 第4回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1999/4/1
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名高瀬信二・小川明宏・今井豊・数馬晋吾・藤田隼人・水野浩樹・村上崇・渡辺晃
測定結果完全動作


境界探索法によるニ値画像ラベリングの実時間処理回路
試作ラン名98年度 第2回 ローム0.6um

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設計年月日1999/3/9
ダイサイズ4.5mm
設計者氏名渡辺晃
測定結果一部動作


ワンチップマイコンの設計
試作ラン名98年度 第2回 ローム0.6um

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設計年月日1999/3/9
ダイサイズ4.5mm
設計者氏名数馬晋吾
測定結果一部動作


矩形領域検出回路
試作ラン名98年度 第2回 ローム0.6um

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設計年月日1999/3/9
ダイサイズ4.5mm
設計者氏名秋田純一
測定結果完全動作


カルコゲナイド不揮発性メモリのための下地基板
試作ラン名1998年度 第3回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1999/2/10
ダイサイズ4.8mm
設計者氏名早川史人
測定結果完全動作


平面配置オートマトンによる矩形領域検出回路
試作ラン名1998年度 第2回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1998/9/1
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名前多和洋
測定結果完全動作


PDSS方式マルチエージェントシステムの局所的無線通信網回路
試作ラン名1998年度 第2回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1998/9/1
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名岡本信治
測定結果完全動作


トップダウン設計による実時間色情報抽出回路
試作ラン名1998年度 第2回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1998/9/1
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名高瀬信二
測定結果完全動作


ボトムアップ設計による実時間色情報抽出回路
試作ラン名98年度 第2回 モトローラ 1.2um

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設計年月日1998/9/1
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名秋田純一
測定結果完全動作


カルコゲナイド半導体相変化不揮発メモリ試作のためのチップ
試作ラン名1998年度 第1回 NEL 0.5um

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設計年月日2.3mm
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名水橋嘉章
測定結果完全動作


教育用8bit RISCチップ
試作ラン名1997年度 第1回 NEL 0.5umno photo
設計年月日1997/6/30
ダイサイズ4.8mm
設計者氏名前多和洋
測定結果完全動作


相変化型不揮発性メモリセル動作試験用配線/2bit ALU, 4bit DAC
試作ラン名1997年度 第1回 モトローラ 1.2um
97MOT101.jpg
設計年月日1997/4/15
ダイサイズ4.8mm
設計者氏名前多和洋、池田真俊
測定結果一部動作


MOSESによる 2bit演算ユニット/4bitDAコンバータのフルカスタム設計
試作ラン名1996年度 モトローラテストラン 1.2umno photo
設計年月日unknown
ダイサイズ2.3mm
設計者氏名前多和洋
測定結果完全動作