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2024-11-17
所在地/アクセス
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Chip Photo Gallery 2008 をテンプレートにして作成
開始行:
[[Chip Photo Gallery 2008]]
|>|>|~eShuttle社 CMOS 65nm ESRセンサ |
|試作ラン名| ES6508:001|#ref(./p3070013sovs.jpg,100x49)|
|設計年月日|2008/11/18 |~|
|ダイサイズ|4.2mm X 2.1mm |~|
|設計者氏名|安田、崔、北川|~|
|測定結果|位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. ...
~
|>|>|~ROHM社 CMOS 180nm ランダム画素配置高精細CMOSイメー...
|試作ラン名| RO1808_10|#ref(./2008rohm180nm_10-1-100.jpg,...
|設計年月日|2009/02/16 |~|
|ダイサイズ|2.4mm X 2.4mm |~|
|設計者氏名|秋田、北川|~|
|測定結果|評価中. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.k...
~
終了行:
[[Chip Photo Gallery 2008]]
|>|>|~eShuttle社 CMOS 65nm ESRセンサ |
|試作ラン名| ES6508:001|#ref(./p3070013sovs.jpg,100x49)|
|設計年月日|2008/11/18 |~|
|ダイサイズ|4.2mm X 2.1mm |~|
|設計者氏名|安田、崔、北川|~|
|測定結果|位相比較器の一部は動作不良. その他は完全動作. ...
~
|>|>|~ROHM社 CMOS 180nm ランダム画素配置高精細CMOSイメー...
|試作ラン名| RO1808_10|#ref(./2008rohm180nm_10-1-100.jpg,...
|設計年月日|2009/02/16 |~|
|ダイサイズ|2.4mm X 2.4mm |~|
|設計者氏名|秋田、北川|~|
|測定結果|評価中. |CENTER:[[large size:http://jaco.ec.t.k...
~
ページ名:
