Chip Photo Gallery 2008 のバックアップ(No.2)


Chip Photo Gallery 2008

eShuttle社 CMOS 65nm ESRセンサ
試作ラン名ES 65nm
p3070013st.jpg
設計年月日2008/11/18
ダイサイズ4.2mm X 2.1mm
設計者氏名安田、崔、北川
測定結果評価中. 平坦化が完全であるためキャパシタしか見えない.large size